失效分析項目介紹

時間：2020-04-03

作者：儀準科技（北京）有限公司

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掃描電鏡SEM你了解嗎？
掃描電鏡SEM你了解嗎？掃描電子顯微鏡SEM應(yīng)用范圍： 1、材料表面形貌分析，微區(qū)形貌觀察 2、各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析 3、各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡單，不需要包埋和切片。樣品要求：樣品必須是固體；滿足無毒，無放射性，無污染，無磁，無水，成分穩(wěn)定要求。制備原則：表面受到污染的試樣，要在不破壞試樣表面結(jié)構(gòu)的
芯片漏電分析手段被誤導(dǎo)了很多年
一提到IC漏電定位大家都認為只有OBIRCH，甚至現(xiàn)在可笑的是認為OBIRCH是一種設(shè)備的名稱。今天小編給大家普及一下這方面的知識。 OBIRCH其實只是一種技術(shù)，是早年日本NEC發(fā)明并申請了專li。它的原理是：給IC加上電壓，使其內(nèi)部有微小電流流過，同時在芯片表面用激光進行掃描。激光掃描的同時，對微小電流進行監(jiān)測，當激光掃到某個位置，電流發(fā)生較大變化，設(shè)備對這個點進行標記，也就是說這個位置即為
突發(fā)！北方華創(chuàng)、長江存儲等31家被拉入UVL清單！
失效分析趙工?半導(dǎo)體工程師?2022-10-08 10:00?發(fā)表于北京剛剛，芯榜消息：根據(jù)美國聯(lián)邦公報，拜登**宣布了對中國獲得美國半導(dǎo)體技術(shù)的新限制，并增加了旨在阻止中國推動發(fā)展自己的芯片產(chǎn)業(yè)和提升該國軍事能力的措施。?據(jù)悉，美國商務(wù)部在其認為“未經(jīng)證實”（UVL）的公司名單中添加了更多名稱，包括31家中國實體。這意味著美國供應(yīng)商在向這些實體銷售技術(shù)時
失效分析FA方法介紹
失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學科，近年開始從**向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)、改進，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。其方法分為有損分析，無損分析，物理分析，化學分析等北軟檢測失效分析失效分析的意義：分析機械零器件失效原因，為事故責任認定、偵破刑事犯罪案件、裁定