表面成分分析的常見方法

時間：2019-12-23

作者：深圳市啟威測標準技術服務有限公司

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詞條說明
什么是表面微觀形貌SEM？
表面所具有的微觀幾何形狀統稱為表面形貌(surface?topography)，?其中表面被定義為-?-種材料與其它材料之間的分界面"?(在工程表面的情況下，一種材料是空氣，另-種為固體材料，例如金屬、塑料等)。固體表面是指固體上代表實體和周圍環境邊界的部分。工程表面形貌代表著工件表面的主要外部特征，是由加工過程中的各種工序產生的。一個制件表面的微觀幾何形貌
材料斷口觀察SEM分析檢測
用肉眼（目視）或在不大于10倍的放大鏡下，檢驗金屬的宏觀組織和缺陷稱為組織檢驗。在實驗室中，常用的檢驗方法有酸蝕低倍檢驗、斷口檢驗、塔形車削發紋檢驗和硫印試驗等。酸蝕低倍檢驗，這是一種將制備好的試樣，經過酸液腐蝕以后，來顯示試樣的宏觀組織的檢驗。而根據酸液溫度的不同，又可以分為熱酸蝕和冷酸蝕兩種檢驗。按GB/T1979評級圖對照低倍組織缺陷圖來進行評級。，通過放大鏡，在酸蝕后的試片上可以發現各種皮
聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應用
焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負電場?(Extractor)?牽引**細小的鎵原子，而導出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、
表面成分分析需要的工具有哪些？
表面成分分析工具化學抽提法微譜技術實拍--氣相色譜儀微譜技術實拍--氣相色譜儀XRF法GC-MSLC-MSICP-MS核磁ICGPCXRD等金屬材料測試常用方法濕法分析直讀光譜（OES）電感耦合等離子體放射光譜（ICP-AES）電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）原子吸收光譜（AAS）手持式XRF