什么是表面微觀形貌SEM？

時(shí)間：2019-12-23作者：深圳市啟威測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：416

深圳市啟威測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專(zhuān)注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測(cè)試,表面粗糙度量測(cè)等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 表面成分分析的常見(jiàn)方法

  表面成分分析按照結(jié)論來(lái)區(qū)分，物質(zhì)成分分析分為定性分析和定量分析兩種.成分分析的定性結(jié)果?通俗的理解是——通過(guò)成分分析的手段得出被測(cè)物中主要包括的成分，概況的來(lái)說(shuō)就是確定物質(zhì)的組分。成分分析的定量結(jié)果?通俗的理解是——在確定被測(cè)物的定性組分之后，進(jìn)行相應(yīng)的定量分析，得出各種組分的分配比例。按照現(xiàn)在的科學(xué)技術(shù)，定量分析只能做到無(wú)限接近真實(shí)情況，但卻無(wú)法**保證準(zhǔn)確。定性半定量分

• 聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應(yīng)用

  焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負(fù)電場(chǎng)?(Extractor)?牽引**細(xì)小的鎵原子，而導(dǎo)出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經(jīng)過(guò)一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經(jīng)過(guò)二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來(lái)進(jìn)行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、

• 表面分析檢測(cè)包括哪些項(xiàng)目？

  表面分析檢測(cè)項(xiàng)目：?材料表面（薄膜）基本力學(xué)性能（納米壓痕儀）?材料的硬度（顯微硬度計(jì)）?薄膜與基體的結(jié)合力（大載荷劃痕儀，納米劃痕儀）?抗摩擦磨損能力（摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)，劃痕儀）?表面應(yīng)力分析（X 射線衍射儀，納米壓痕 model 軟件）?材料物理化學(xué)性能：?耐腐蝕性能（鹽霧試驗(yàn)機(jī)）?電化學(xué)性能（電化學(xué)工作站）&nbs

• 微量污染物成分分析

  微觀成分分析????????◆腐蝕產(chǎn)物分析????????◆鍍（涂）層成分分析????????◆污染物成分分析????&