優(yōu)爾鴻信成分分析|FTIR紅外光譜分析實(shí)驗(yàn)室資源

時(shí)間：2025-08-29作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：237

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|多層陶瓷電容短路失效分析

  一 背景客戶汽車方向盤主板功能失效，經(jīng)排查后主板 C1 電容出現(xiàn)短路現(xiàn)象（經(jīng)萬(wàn)用表量測(cè)，電容兩端阻值約 14 KΩ），送測(cè)至實(shí)驗(yàn)室分析其失效原因。二 實(shí)驗(yàn)方案三 測(cè)試結(jié)果1.電容測(cè)量（破壞前）：采用萬(wàn)用表“歐姆”檔測(cè)量 C1 電容兩端阻值為 14.23KΩ。2.3D 外觀觀察：主板 C1 位置焊盤表面殘存淡黃色透明裝物質(zhì)，其余未見(jiàn)異常。3.SEM 外觀檢查（破壞前）：C1 電容表面及 Psd 點(diǎn)附

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|工業(yè) CT 掃描檢測(cè)如何應(yīng)用于復(fù)雜形狀零件檢測(cè)？

  工業(yè) CT 掃描檢測(cè)在復(fù)雜形狀零件檢測(cè)中發(fā)揮著極為重要的作用。首先，對(duì)于復(fù)雜形狀零件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)可視化方面，工業(yè) CT 掃描能夠以非破壞性的方式穿透零件，獲取其內(nèi)部的三維斷層圖像。無(wú)論零件的形狀是帶有復(fù)雜的內(nèi)腔、彎曲的通道，還是不規(guī)則的壁厚變化，CT 掃描都可以清晰地呈現(xiàn)內(nèi)部細(xì)節(jié)。例如在航空發(fā)動(dòng)機(jī)的葉片檢測(cè)中，葉片具有復(fù)雜的曲面和內(nèi)部冷卻通道，通過(guò)工業(yè) CT 掃描，可以直觀地看到冷卻通道是否完整、有

• 不同電子電氣產(chǎn)品在恒定濕熱試驗(yàn)中，如何根據(jù)產(chǎn)品特性選擇合適的試驗(yàn)溫度、濕度及持續(xù)時(shí)間？

  在恒定濕熱試驗(yàn)中，選擇合適的參數(shù)要考慮電子電氣產(chǎn)品的多方面特性。首先從材料角度出發(fā)，對(duì)于以金屬材料為主的產(chǎn)品，重點(diǎn)關(guān)注濕度引起的腐蝕問(wèn)題。如果產(chǎn)品含有易腐蝕的金屬（如鐵、銅），濕度一般可設(shè)置在 90% - 95%，溫度在 40℃ - 50℃左右，持續(xù)時(shí)間可能需要幾天到幾周，具體要看產(chǎn)品的使用環(huán)境和防護(hù)措施。因?yàn)楦邼穸拳h(huán)境會(huì)加速金屬的電化學(xué)腐蝕過(guò)程。從產(chǎn)品的功能結(jié)構(gòu)考慮，對(duì)于密封性能好的電子設(shè)備，如

• 如何根據(jù)電子電氣產(chǎn)品的質(zhì)量和結(jié)構(gòu)特點(diǎn)確定沖擊試驗(yàn)的脈沖波形和峰值加速度？

  質(zhì)量因素對(duì)脈沖波形和峰值加速度的影響對(duì)于質(zhì)量較小的電子電氣產(chǎn)品，如小型手持電子設(shè)備（手機(jī)、智能手表等），其慣性相對(duì)較小。在實(shí)際使用中，可能遭遇的沖擊多是由于意外掉落或與其他物體的碰撞。這些沖擊通常具有較高的頻率和較短的作用時(shí)間。因此，在沖擊試驗(yàn)中，半正弦波脈沖波形比較合適，因?yàn)樗軌蜉^好地模擬這種瞬間碰撞的情況。對(duì)于峰值加速度，由于產(chǎn)品質(zhì)量小，其在受到?jīng)_擊時(shí)能夠承受相對(duì)較高的加速度。一般來(lái)說(shuō)，小型