成分分析的作用及目的

時間：2019-12-23作者：深圳市啟威測標準技術服務有限公司瀏覽：370

深圳市啟威測標準技術服務有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測試,表面粗糙度量測等

• 詞條

  詞條說明

• 表面微觀形貌的測量與評定

  表面形貌評定的**在于對特征信號無失真的提取和對使用性能的量化評定，國內外學者在這一方面做了?大量工作，提出了許多分離與重構方法。隨著當今微機處理技術、集成電路技術、機電一體化技術等的發展。出現了用分形法、Motif法、功能參數集法、時間序列技術分析法、小二乘多項式擬合法、濾波法等各種評定理論與方法，**了顯著進展。表面是由粗糙度，波紋度和表面形狀誤差3個部分構成的。隨著現代測量精度的不

• 涂鍍層厚度測試的應用領域

  涂鍍層厚度測試應用領域電子、汽車、航空、材料、金屬、陶瓷品等各個制造領域。涂/鍍層厚度測量相關參考標準GB/T?6462-2005?金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法GB/T16921-2005?金屬覆蓋層?覆蓋層厚度測量 X射線光譜法ASTM?B487-1985(2007)?用橫斷面顯微觀察法測定金屬及氧化層試驗方法ASTM?

• 常用熱分析方法對比

  熱分析技術是在溫度程序控制下研究材料的各種轉變和反應，是一種十分重要的分析測試方法。常用的熱分析方法有：熱重法(TG)、差熱分析法（DTA）、差示掃描量熱法（DSC）。熱重分析法：?熱重分析（Thermogravimetric Analysis，TG或TGA），是指在程序控制溫度下測量待測樣品的質量與溫度變化關系的一種熱分析技術，用來研究材料的熱穩定性和組份。TGA在研發和質量控制方面都

• 聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應用

  焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負電場?(Extractor)?牽引**細小的鎵原子，而導出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、