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X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射,這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質量(若密度已知,則為覆蓋層線性厚度)和二次輻射強度之間存在一定的關系。該關系首先由已知單位面積質量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知,同時又給出實際的密度,則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。測試設
表面成分分析工具化學抽提法微譜技術實拍--氣相色譜儀微譜技術實拍--氣相色譜儀XRF法GC-MSLC-MSICP-MS核磁ICGPCXRD等金屬材料測試常用方法濕法分析直讀光譜(OES)電感耦合等離子體放射光譜(ICP-AES)電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS)原子吸收光譜(AAS)手持式XRF
用肉眼(目視)或在不大于10倍的放大鏡下,檢驗金屬的宏觀組織和缺陷稱為組織檢驗。在實驗室中,常用的檢驗方法有酸蝕低倍檢驗、斷口檢驗、塔形車削發紋檢驗和硫印試驗等。酸蝕低倍檢驗,這是一種將制備好的試樣,經過酸液腐蝕以后,來顯示試樣的宏觀組織的檢驗。而根據酸液溫度的不同,又可以分為熱酸蝕和冷酸蝕兩種檢驗。按GB/T1979評級圖對照低倍組織缺陷圖來進行評級。,通過放大鏡,在酸蝕后的試片上可以發現各種皮
成分分析的目的了解原料成份,質量監控分析產品中的各個組分比例,還原產品配方為產品標簽尋找證據證明產品不含某成份為產品性能下降找原因了解成份含量,以了解產品性能解決生產過程出現的問題比較不同時期的產品成分分析的作用煉鋼爐前分析——控制產品質量分析組成成分----還原配方工業問題診斷----分析原因,消除隱患成品檢驗——合格產品的質保書深圳市啟威測標準技術服務有限公司(簡稱“啟威測”或“QWC”)成立
公司名: 深圳市啟威測標準技術服務有限公司
聯系人: 尹小姐
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