CCD全譜光譜儀分析精密度高

時(shí)間：2024-11-21作者：鋼研納克江蘇檢測(cè)技術(shù)研究院有限公司瀏覽：101

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 全譜直讀光譜儀是什么

  SparkCCD 7000 全譜火花直讀光譜儀采用高分辨率 線 陣 CCD(Charge-coupled Device) 作 為 檢 測(cè) 器， 實(shí)現(xiàn)全譜掃描。采用智能控制光室充氣系統(tǒng)，儀器性能更 穩(wěn)定，服務(wù)期限更長(zhǎng)久。海量的譜線使分析不再受限，曲 線分段跳轉(zhuǎn)同一元素不同譜線間實(shí)現(xiàn)無(wú)縫銜接，拓展分析 范圍第三元素干擾校正使元素分析更加準(zhǔn)確，可以在用戶(hù) 現(xiàn)場(chǎng)任意增加材料基體和分析元素而無(wú)需增加硬件，維

• 使用標(biāo)準(zhǔn)樣品對(duì)直讀光譜儀進(jìn)行校正

  絕大多數(shù)直讀光譜儀生產(chǎn)廠家都事先制做了通用性的工作中曲線圖，因此在分析試件前，要提早尋找生產(chǎn)廠家所配備的規(guī)范樣品，接著挑選將相對(duì)應(yīng)的規(guī)范樣品放到激發(fā)臺(tái)子上激發(fā)，按照標(biāo)準(zhǔn)化步驟實(shí)際操作，操作結(jié)束后就可以對(duì)樣品開(kāi)展分析。但生產(chǎn)廠家事先制做的工作中曲線圖的范疇非常大，有一些因素在成分小于一定值時(shí)，其分析結(jié)果會(huì)造成非常大的偏差。因此在對(duì)激發(fā)樣品開(kāi)展分析以前，就需要應(yīng)用與待檢測(cè)樣相貼近的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品來(lái)校準(zhǔn)

• 企業(yè)如何選擇適合的CMOS光譜儀

  企業(yè)如何選擇適合的CMOS光譜儀，是一個(gè)涉及技術(shù)、應(yīng)用、成本及后續(xù)維護(hù)等多方面的考量過(guò)程。以下是對(duì)這一問(wèn)題的詳細(xì)概述。首先，明確企業(yè)需求是基礎(chǔ)。不同的企業(yè)，其光譜分析需求可能大相徑庭。例如，一些企業(yè)可能需要進(jìn)行高精度的元素定量分析，而另一些則可能更注重快速、實(shí)時(shí)的在線監(jiān)測(cè)。因此，在選擇CMOS光譜儀時(shí)，企業(yè)應(yīng)首先明確自身的分析需求，包括分析的元素種類(lèi)、濃度范圍、樣品類(lèi)型以及分析速度等。其次，考慮光

• 波長(zhǎng)色散x熒光光譜儀

  波長(zhǎng)色散X熒光光譜儀（WD-XRF）是一種基于X射線熒光原理進(jìn)行物質(zhì)成分分析的高端科學(xué)儀器。它利用原級(jí)X射線或其他光子源作為激發(fā)源，照射待測(cè)物質(zhì)中的原子，使其內(nèi)殼層電子被激發(fā)并躍遷至高能級(jí)，隨后這些高能級(jí)電子回落到低能級(jí)時(shí)，會(huì)釋放出具有特定波長(zhǎng)的X射線熒光，即次級(jí)X射線。這些特征X射線熒光攜帶著待測(cè)元素的種類(lèi)及含量信息，通過(guò)波長(zhǎng)色散型光譜儀的分光系統(tǒng)，可以將不同波長(zhǎng)的X射線熒光分離，再由探測(cè)器系統(tǒng)