高低溫冷熱沖擊試驗箱的安裝注意事項有哪些？

時間：2023-06-26

作者：廣東艾思荔檢測儀器有限公司

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詞條
詞條說明
半導體相關試驗設備(冷熱沖擊試驗箱)的測試標準介紹
半導體應用廣泛，相關的試驗設備有多種，下面簡單介紹下常見半導體試驗設備的標準如下：1.溫度循環（冷熱沖擊試驗箱）參考標準：JESD22-A104溫度范圍：-65℃~150℃低溫沖擊：-40℃，-55℃，-65℃高溫沖擊：65℃，85℃，125℃溫度沖擊時間小于3min，1min溫度保持時間30min，60min測試時間不能少于1000個循環2.熱壓器/無偏壓 HAST測試參考標準：JESD22-
闡述hast高壓加速老化試驗箱的使用參數范圍
hast高壓加速老化試驗箱適用于*、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測，相關之產品作加速壽命試驗，使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的耐厭性，氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見
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