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光譜分析儀簡稱光譜儀,是將成分復雜的復合光分解為光譜線并進行測量和計算的科學儀器,被廣泛應用于輻射度學分析、顏色測量、化學成份分析等領域,下面和一六儀器一起了解一下。光譜分析儀一般由分光系統、接收系統和數據處理系統組成,其工作原理是將光源發出的復色光按照不同的波長分離出來,配合各種光電探測器件對譜線強度進行測量,獲得光譜功率(輻射)分布,再計算出色品坐標、色溫、顯色指數、光通量、輻射通量等光色性能
貴金屬主要指金、銀和鉑族金屬元素(釕、銠、鈀、鋨、銥、鉑)。貴金屬純度檢測一般依據兩項國家標準來進行,國家質檢總局發布的國家標準GB/T18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來進行貴金屬含量的無損檢測方法。目前在貴金屬制造行業已經形成大規模使用X熒光光譜儀(XRF)來測試貴金屬含量。那光譜分析儀在珠寶首飾行業鍍層檢測方面有哪些優勢呢?今天就和光譜分析儀生產
為了避免膜厚測量儀在工作期間出現故障或出現誤差,我們需要定期對膜厚測量儀進行維護,在日常使用時我們也可以注意以下事項,這樣可以延長膜厚測量儀的使用壽命,下面和膜厚測量儀廠家一起了解一下。1、膜厚測量儀應該放置在干燥通風的室內,不得出現零件污損、生銹、雜物進入測量儀的現象,這些情況都會影響測量儀的使用性能。2、膜厚測量儀要定期更換潤滑油,以確保儀器的正常運行。3、在膜厚測量儀使用完畢后,可以用普通的
全自動多功能XRF分析儀,搭載全自動移動平臺和影像識別功能,既能檢測納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚,也可滿足微區RoHS檢測及全元素成分分析。接下來和全自動多功能XRF分析儀優勢及應用鄰域。全自動多功能XRF分析儀優勢:1)搭載微聚焦加強型X射線發生器和**的光路轉換聚焦系統,較小測量面積達0.03mm2;2)擁有無損變焦檢測技術,手動變焦功能,可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍
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