鍍層測(cè)厚儀的日常維護(hù)方法

時(shí)間：2022-09-28作者：昆山市周市牧亞凱機(jī)電設(shè)備商行瀏覽：204

昆山市周市牧亞凱機(jī)電設(shè)備商行專注于增塑劑分析儀,手持ROHS光譜儀,手持重金屬光譜儀,ROHS重金屬光譜儀,ROHS有害元素光譜儀,ROHS鹵素檢測(cè)儀,電鍍鍍層測(cè)厚儀,膜厚測(cè)試儀,ROHS指令分析儀,江蘇ROHS2.0分析儀等, 歡迎致電 18550531168

• 詞條

  詞條說明

• 陶瓷成分波散分析儀WDX系列

  WDX系列小型多道X射線熒光光譜儀可配置10個(gè)固定分光道，可同時(shí)分析10種元素。根據(jù)用戶的應(yīng)用要求可配置為從Na到U的任意十種元素。該儀器可廣泛應(yīng)用于水泥、鋼鐵、粉末冶金、煤炭、石油、高嶺土、玻璃、耐火材料、環(huán)保等行業(yè)，是大中型企業(yè)質(zhì)量控制的理想選擇。性能特點(diǎn)粉體樣品或塊樣品快速，非破損分析。采用多路高速M(fèi)CA并行實(shí)時(shí)檢測(cè)各元素譜峰，不僅便于調(diào)試儀器和故障診斷，而且有利于提高儀器穩(wěn)定性。技術(shù)指標(biāo)型

• ROHS分析儀的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

  檢測(cè)方法能量散射X熒光光譜分析重量?jī)糁?.19 kg，上電池后1.6 kgX光管X-射線管, W正極, 10-40 kV, 10–50mA, 6個(gè)濾光片位置和5個(gè)濾光片檢測(cè)器Si-PiN二極管檢測(cè)器, 5.95 keV Mn的K-alpha譜線 < 230 eV FWHM， 溫度范圍: -10?C - +50?CLEAP(輕元素測(cè)試軟件)輕元素如Cr, Cl, P的分析精度業(yè)界良好操作扳機(jī)或

• 玩具八大重金屬ICP分析儀

  icp-aes分析儀(atomic emission spectrometer)。主要用于無機(jī)元素的定性及定量分析，ICP-AES 電感耦合原子**光譜儀作為一種大型精密的無機(jī)分析儀器。廣泛地應(yīng)用于稀土分析、貴金屬分析、合金材料、電子產(chǎn)品、醫(yī)藥衛(wèi)生、冶金、地質(zhì)、石油、化工、商檢以及環(huán)保等部門。儀器特點(diǎn)與其它光學(xué)分析儀器方法相比 ICP-AES 方法具有以下幾個(gè)明顯的優(yōu)勢(shì)：a 分析速度快ICP-AE

• X射線熒光光譜分析在地質(zhì)分析中的應(yīng)用

  1 X射線熒光光譜儀的原理X射線熒光是一種由于原子內(nèi)部結(jié)構(gòu)變化所導(dǎo)致的現(xiàn)象。眾所周知, 一個(gè)原子由原子核及核外電子組成, 若內(nèi)層電子受到足夠能量的X射線照射, 會(huì)脫離原始運(yùn)行軌道釋放出電子, 并在該電子殼層上產(chǎn)生電子空位, 此時(shí)該電子空位會(huì)被處于高能量電子殼層的電子通過自發(fā)性躍遷填補(bǔ)。由于不同電子殼層之間存在著能量差并以熒光 (二次X射線) 的形式釋放出來, 而不同元素所釋放出來的二次X射線能量也