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一. 磁吸力測量原理及測厚儀*磁鐵(測頭)與導磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關系,這個距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測厚儀,只要覆層與基材的導磁率之差足夠大,就可進行測量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測厚儀應用較廣。測厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼,接力簧,標尺及自停機構(gòu)組成。磁鋼與被測物吸合后,將測量簧在其后逐漸拉長,拉力逐漸增大。當拉力剛好大于吸
磁感應原理早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測量感應電動勢的大小,儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用**設計的集成電路,引入微機,使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達一個數(shù)量級)?,F(xiàn)代的磁感應測厚儀,分辨率達到0.1um,允許誤差達1%,量程達10mm。磁性原理測厚儀可應用來精確測量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護層,塑
金屬的光譜分析法是指通過分析樣品的光譜特性來定量其中不同元素的含量。以較為**的直讀光譜儀為例,具體分析過程包括:1.通過電容火花放電的方式使被測金屬表面蒸發(fā)形成原子蒸汽,由于受到高能激發(fā),這些原子的核外電子會從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài),由于激發(fā)態(tài)的電子處于不穩(wěn)態(tài),會躍遷回基態(tài),并放出光子,形成光源。2.不同的元素其發(fā)出的光子特征波長不一樣。將光源的光通過分光系統(tǒng)分光后,由光電檢測器檢測各個元素特征波長上
ICP-OES、ICP-MS、AAS傻傻分不清ICP-OES,即電感耦合等離子體(ICP)光譜儀;而ICP-MS,則以ICP方法離子質(zhì)譜分析。有時,人們會叫它?!癐CP質(zhì)譜分析”。那他們和AAS有什么區(qū)別?如何選擇統(tǒng)計分析方法?針對有著ICP-OES有技術(shù)背景的人,ICP-MS它是一種以質(zhì)譜儀器為探測器的等離子體(ICP),但質(zhì)譜分析學者認為,質(zhì)譜分析學者認為ICP-MS是一個以ICP質(zhì)譜儀器為源
公司名: 昆山市周市牧亞凱機電設備商行
聯(lián)系人: 李經(jīng)理
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地 址: 江蘇蘇州昆山市周市鎮(zhèn)青陽北路860號
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