詞條
詞條說明
在半導體行業中,極小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題,這會降低產量并耗費生產的時間和成本。因此,檢測半導體晶圓表面的缺陷和污染至關重要,這是在半導體計量行業許多客戶面臨的挑戰。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷,通常在深紫外(DUV)波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中,Holoor指出當線沿徑向掃描時,晶圓旋轉,產生晶圓的大面積采樣,從而
在使用Alphalas?UPD超快光電探測器時,對于所有遇到光電探測器沒有信號或信號非常小這種問題的客戶,經過事實證明,沒有任何例外的原因都是落在光電探測器芯片敏感區的輸入光功率太低。用功率僅為1 mW的633nm激光對UPD-50-SP進行測試。首先,我們參考UPD超快光電探測器UPD-50-SP的靈敏度曲線。在633nm,靈敏度為0.5 A/W(或0.5 mA/mW)。因為具有1mW
ALPAO 發布了一款新的可變形反射鏡,以完善其自適應光學產品系列。這種新產品旨在適應工業應用:使自適應光學更簡單、更便宜。ALPAO設計制造的全新產品是模態變形鏡(DMM)。它允許前所未有地使用自適應光學?(AO)!它以大振幅和高精度提供最常見的光學像差的出色校正。ALPAO DMM對最常見的光學像差提供了出色的校正。具有?7?或?8?個控制通道
光學涂層廣泛用于改變鏡片表面的反射率,從眼鏡到高功率激光應用。本文經常使用的三種主要涂層技術的概述。這幾種技術介紹了介電和金屬涂層背后的物理原理,以及結合金屬和介電層的可能性。Layertec掌握了飛秒激光鍍膜的核心科技,其鍍膜具有低色散、高損傷閾值的特點。對于脈沖100多飛秒,其損傷閾值可以達到接近1J/cm2。一、熱蒸鍍和電子束蒸發(Thermal and Electron Beam Evap
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
聯系人: 劉先生
電 話: 0755-84870203
手 機: 18926463275
微 信: 18926463275
地 址: 廣東深圳龍崗區龍崗區平湖街道華南城1號館
郵 編: