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詞條說明
?電子器件是一個非常復(fù)雜的系統(tǒng),其封裝過程的缺陷和失效也是非常復(fù)雜的。因此,研究封裝缺陷和失效需要對封裝過程有一個系統(tǒng)性的了解,這樣才能從多個角度去分析缺陷產(chǎn)生的原因。 封裝缺陷與失效的研究方法論 封裝的失效機(jī)理可以分為兩類:過應(yīng)力和磨損。過應(yīng)力失效往往是瞬時的、災(zāi)難性的;磨損失效是長期的累積損壞,往往首先表示為性能退化,接著才是器件失效。失效的負(fù)載類型又可以分為機(jī)械、熱、電氣、輻射和化
?根據(jù)大量的研究和實(shí)驗(yàn)表明,人可接受的較大加速度為am≤1.5m/s2,加速度變化率ρm≤3m/s3,電梯的理想運(yùn)行曲線按加速度可劃分為三角形、梯形和正弦波形,由于正弦波形加速度曲線實(shí)現(xiàn)較為困難,而三角形曲線較大加速度和在啟動及制動段的轉(zhuǎn)折點(diǎn)處的加速度變化率均大于梯形曲線,即+ρm跳變到-ρm或由-ρm跳變到+ρm的加速度變化率,故很少采用,因梯形曲線容易實(shí)現(xiàn)并且有良好加速度變化率頻繁指
?實(shí)時監(jiān)控模塊選用NI cFP分布式I/O實(shí)時系統(tǒng)。作為工業(yè)級控制系統(tǒng),cFP具備FIFO數(shù)據(jù)隊(duì)列、斷電數(shù)據(jù)緩存、看門狗狀態(tài)監(jiān)測以及高抗沖擊性和抗擾性,用于完成系統(tǒng)較**的實(shí)時采集與控制的部分[3]。選用cFP-2020模塊作為實(shí)時系統(tǒng)控制器,該控制器內(nèi)嵌微處理器、32M DRAM以及256M Flash 閃存芯片,支持LabVIEW Real-Time實(shí)時模塊,該模塊可脫離LabVI
?我們銷售的進(jìn)口配件從國外生產(chǎn)廠家直接進(jìn)貨,實(shí)行扁平化的銷售模式,給客戶節(jié)約了時間和成本。我們能夠及時地報出優(yōu)惠的價格和迅捷的交貨期;國內(nèi)用戶采購國外備件受到代理壟斷價格時,我們會給用戶提供一個比較的機(jī)會,并且為客戶提供的解決方案。由于我們的訂單集中,訂貨量大,因此我們能提供頗具競爭力的價格并能夠迅速交貨,我們長期以來致力于解決國內(nèi)用戶采購國外備件中的疑難問題,并為廣大用戶提供電氣及工控
公司名: 廈門仲鑫達(dá)科技有限公司
聯(lián)系人: 徐亞婷
電 話: 0592-5087595
手 機(jī): 18020776785
微 信: 18020776785
地 址: 福建廈門廈門國貿(mào)大廈
郵 編:
網(wǎng) 址: zma1122.cn.b2b168.com
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