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I3C CTS (Conformance Testing Suite)一致性測試套件 如何測試 I3C 器件的互作性或一致性測試?
I3C協(xié)議勢頭強(qiáng)勁,將成為汽車、數(shù)據(jù)和許多其他應(yīng)用的主流技術(shù)。市場上出貨的 I3C 接口半導(dǎo)體數(shù)量在過去 3 年中增長了 3 倍,預(yù)計(jì)未來十年增長將翻一番。隨著具有 I3C 接口的半導(dǎo)體芯片的增長,傳感器和 eeprom 等設(shè)備也需要支持或遷移到 I3C 協(xié)議。遷移到I3C 接口將使設(shè)備能夠發(fā)送較高的性能以及較好的控制和配置。以下是遷移到 I3C 接口的一些主要優(yōu)勢·??&nb
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測PMIC焊接問題有哪些注意事項(xiàng)
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測焊接問題時(shí),需兼顧硬件連接的可靠性、信號分析的準(zhǔn)確性和調(diào)試邏輯的嚴(yán)謹(jǐn)性,避免因操作不當(dāng)導(dǎo)致誤判或遺漏問題。以下是關(guān)鍵注意事項(xiàng):一、硬件連接與探針設(shè)置:避免“檢測工具引入新問題”探針接觸必須可靠,排除“假陽性”干擾焊接問題的**是“物理連接異常”,若分析儀探針與SPMI引腳接觸不良(如探針未壓緊、探針頭氧化),會(huì)導(dǎo)致信號捕獲失真(如波形毛刺、信號丟失),易被誤判為焊接問題。
產(chǎn)品功能 UFS4.0協(xié)議分析儀(PGY-UFS4.0-PA)是一種具有多種功能,可捕獲和調(diào)試主機(jī)與被測設(shè)計(jì)(DUT)之間的通信的協(xié)議分析儀。UFS4.0協(xié)議分析儀是同類產(chǎn)品中基于值的分析儀,可捕獲和調(diào)試MPHY、UniPro 和UFS協(xié)議層的數(shù)據(jù)。它允許對UFS層、UniPro層和 MPHY層進(jìn)行即時(shí)解碼,并能靈活地在這些協(xié)議層之間關(guān)聯(lián)解碼數(shù)據(jù)。 UFS4.0協(xié)議分析儀是業(yè)內(nèi)一個(gè)可運(yùn)行并經(jīng)過測試
如何通過Prodigy I3C協(xié)議調(diào)試簡化DDR5內(nèi)存設(shè)計(jì)
隨著 DDR5 內(nèi)存設(shè)計(jì)變得越來越復(fù)雜,在系統(tǒng)級別調(diào)試 I3C 協(xié)議問題對于確保較佳性能變得至關(guān)重要。Prodigy Technovations 為實(shí)時(shí) I3C 協(xié)議分析和調(diào)試提供了強(qiáng)大的解決方案。為什么選擇 Prodigy 進(jìn)行 I3C 協(xié)議調(diào)試?l? 完整的I3C協(xié)議分析:輕松捕獲和分析復(fù)雜的I3C事務(wù),確保您在設(shè)計(jì)過程中保持**地位。l? 無縫系統(tǒng)級調(diào)試:在系統(tǒng)級解決協(xié)議
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
電 話: 19926571623
手 機(jī): 18588455974
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Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀
Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy SD、eMMC AC/DC 測試儀, 歐奧電子OIOSYS供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀
歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡
歐奧一鍵式全自動(dòng)進(jìn)樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導(dǎo)體材料
歐奧原子級分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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