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FTIR紅外光譜技術原理FTIR,屬于分子光譜的應用,在工業領域,較為常用的是中紅外光譜。?目標樣品,被紅外照射之后,樣品內部的分子結構吸收特征頻率的輻射, 輻射環境分子的振動轉動,引起分子結構的偶極矩改變, 由此分子振動能級、轉動能級,都被激發躍遷,躍遷從基態到激發態的能級變化,產生特征頻率、特征強度的分子光譜 物質的化學結構定性分析,就是基于該光譜圖的特征頻率和特征強度的綜合判定。編
集成電路(IC)檢測是確保其質量和性能的關鍵步驟,以下是一些常用的檢測方法:一、外觀檢查這是最基本的檢測方法。通過肉眼或借助放大鏡來檢查 IC 的引腳是否有彎曲、折斷、氧化等情況。同時,查看芯片表面是否有劃痕、裂紋、污漬或其他物理損壞。對于封裝體,檢查其標記是否清晰、完整,確保型號等信息準確無誤,因為標記錯誤可能會導致使用錯誤的芯片。二、功能測試在線測試(ICT)這是在電路板上對 IC 進行測試的
物理性質檢測:外觀檢查:查看冷卻液的顏色、透明度、是否有懸浮物或沉淀、有無分層現象等。正常的冷卻液應是顏色均勻、清澈透明且無雜質、無分層的。如果出現顏色異常、渾濁或有沉淀,可能是冷卻液受到了污染或發生了變質。密度檢測:使用密度計測量冷卻液的密度。密度是反映冷卻液成分和濃度的重要指標,不同配方和型號的冷卻液有其特定的密度范圍,通過檢測密度可以判斷冷卻液是否符合標準要求。冰點檢測:這是電動汽車冷卻液非
鑄造工藝的影響在鑄造過程中,熔煉溫度和時間是關鍵因素。如果熔煉溫度過高或時間過長,一些低熔點的合金元素可能會揮發,從而導致成分分析檢測時這些元素的含量比實際配方中的含量低。例如,鋁合金中的鎂元素,其熔點相對較低,在高溫熔煉過程中容易揮發損失。冷卻速度也會對成分檢測結果產生影響。較快的冷卻速度可能導致元素偏析。例如,在鑄造鋁合金時,硅元素可能會在晶界處富集,使晶界和晶內的成分出現差異。在進行成分分析
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