優(yōu)爾鴻信檢測電子電器產(chǎn)品中鎳釋放量的國際檢測標準有哪些？

時間：2025-09-09

作者：優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司

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詞條
詞條說明
如何根據(jù)電子電氣產(chǎn)品的質(zhì)量和結(jié)構(gòu)特點確定沖擊試驗的脈沖波形和峰值加速度？
質(zhì)量因素對脈沖波形和峰值加速度的影響對于質(zhì)量較小的電子電氣產(chǎn)品，如小型手持電子設(shè)備（手機、智能手表等），其慣性相對較小。在實際使用中，可能遭遇的沖擊多是由于意外掉落或與其他物體的碰撞。這些沖擊通常具有較高的頻率和較短的作用時間。因此，在沖擊試驗中，半正弦波脈沖波形比較合適，因為它能夠較好地模擬這種瞬間碰撞的情況。對于峰值加速度，由于產(chǎn)品質(zhì)量小，其在受到?jīng)_擊時能夠承受相對較高的加速度。一般來說，小型
金屬材料晶粒尺寸檢測有哪些常用方法？它們的精度和適用范圍分別是怎樣的？
光學顯微鏡法原理和操作：這是最基本的方法。通過對金屬材料進行適當?shù)慕鹣嘀苽洌ㄈ缜懈?、研磨、拋光和腐蝕），使晶粒邊界顯現(xiàn)出來，然后在光學顯微鏡下觀察。利用顯微鏡的放大功能，可以直接測量晶粒的尺寸。精度：精度相對較低，一般可以精確到微米級別。例如，對于晶粒尺寸在 10 - 100 微米的材料，能夠得到比較準確的測量結(jié)果，但對于亞微米級別的晶粒，測量就比較困難。適用范圍：適用于晶粒尺寸較大（通常大于 1
優(yōu)爾鴻信精密量測|形位公差測量有哪些標準
形位公差測量標準主要如下：《GB/T 1182-2018產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 幾何公差形狀、方向、位置和跳動公差標注.pdf》?《GB_T1182-1996形狀和位置公差通則、定義、符號和圖樣表示法》?實際的工業(yè)制品測量形位公差，會有很多技術(shù)細節(jié)，需要來自測量實驗室的建議，提供形位公差測量方案，詳情咨詢優(yōu)爾鴻信編輯：Amanda王莉
優(yōu)爾鴻信2024年研討會計劃
尊敬的客戶及朋友們：?? ? ? ? ?優(yōu)爾鴻信檢測2024年研討會排期如下，大家全網(wǎng)搜索優(yōu)爾鴻信觀看直播，與講師線上互動。注：表中部分內(nèi)容在實施中或有變動，具體實施時間以實際為準。