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臺式X熒光光譜儀分析法之一的粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點(不能用添加劑)。在各種應用中,粉末方法通常既方便又迅速。接下來我們了解下幾個臺式X熒光光譜儀測試時粉末樣品誤差來源。粉末樣品誤差主要來源:(1) 粒度效應 粉末樣品粒度效應是指被測量樣品中的分析元素的熒光強度變化和樣品的粒度變化有關。一般來說,被分析樣品的粒度越小,熒光強度越高,輕元素尤甚。原子序數越小,對粒度越敏感;同一元素粒度越小,
臺式X熒光光譜儀是一種常用的分析儀器,它是通過激發樣品中的分子或原子,使其發生熒光**,然后通過檢測熒光光譜來分析樣品的成分和結構。那么,臺式x熒光光譜儀可以檢測測金屬鍍層嗎?檢測金屬鍍層的時候需要注意什么?答案是可以。事實上,熒光光譜儀可以用于測量各種類型的金屬鍍層,包括鍍鉻、鍍鋅、鍍鎳、鍍銅等。這是因為金屬鍍層中含有大量的金屬離子,這些離子可以被激發產生熒光**,從而形成特定的熒光光譜。那么在
手持式X射線熒光(XRF)設備,因其使用簡單、方便,主要是結果準確,為各行各業的發展作出了巨大的貢獻。日常使用中如何保證手持X射線熒光光譜儀的正常使用呢?看看創想儀器給出以下幾點維護方法。安全使用:避免將儀器指向任何人或將身體暴露在光束中,雖然X射線對人體的危害較小,但仍需注意防護。X射線管與探測器是精密元件,需避免碰撞或摔落,保持儀器正常運行。存放環境:將設備存放在干燥的環境中,防止因潮濕導致儀
臺式X熒光光譜儀現在已經成為了是元素分析的熱門儀器之一,它制樣簡單、無損、快速、不破壞樣品、可以多元素同時分析等優點。臺式X熒光光譜儀采用兩種分光技術,一是通過分光晶體對不同波長的X-熒光進行衍射而達到分光目的,然后用探測器探測不同波長處X-熒光強度,這項技術稱為波長色散光譜。另一項技術是首先使用探測器接收所有不同能量的X-熒光,通過探測器轉變成電脈沖信號,經前置放大后,用多道脈沖高度分析器進行信
公司名: 無錫創想分析儀器有限公司杭州分公司
聯系人: 馬建洲
電 話: 0510-83205379
手 機: 18262253279
微 信: 18262253279
地 址: 江蘇無錫濱湖區富潤路8號
郵 編: 214161
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