rohs檢測儀有哪些技術指標

時間：2022-05-12作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：639

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• 詞條

  詞條說明

• X射線熒光光譜儀是什么？

  X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。 一種射線式

• X射線熒光光譜儀技術原理

  X射線熒光光譜儀另一方面，化學元素遭到高能光子或粒子的照耀，如內層電子被激起，則當外層電子躍遷時，就會放射出特征X射線。特征X射線是一種別離的不延續譜。假如激起光源為x射線，則受激發生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀發生的進程。當人射x射線撞擊原子中的電子時，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會被擊出。這一互相效果進程被稱為光電效應，被打出的電子稱為光電子

• X射線熒光光譜儀常見有那幾種分類

  波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據bragg定律將不同能量的譜線分開，然后進行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素，因此測量速度通常比同時式慢，適用于科研及多用途的工作。同時式則適用于相對固定組成，對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與

• X熒光光譜鍍層測厚儀

  X熒光光譜鍍層測厚儀既滿足原有微小和復雜形態樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析,被廣泛應用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量。X熒光光譜鍍層測厚儀配置01 獨立的X/Y/Z軸控制系統02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護05 Fast-SDD探測器06 雙激光定位裝置07 標配可自動切換的準直