ICP光譜儀對通風的要求

時間：2024-10-16

作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司

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詞條
詞條說明
鍍層測厚儀
XRF鍍層測厚儀俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等，主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度。XRF鍍層測厚儀：俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等；功能：精密測量金屬電鍍層的厚度；應用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從12(Mg)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 /
國產X射線熒光光譜儀原理和特點
儀器成立于1992 年，以研究、生產、銷售X 熒光光譜分析儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質譜儀為主的高端分析儀器及應用軟件的研發、生產、銷售和相關技術服務，是國內首家在創業板上市的分析儀器企業。公司產品主要應用于環境保護與安全（空氣、土壤、水質污染檢測等）、礦產與資源（地質、采礦）、商品檢驗甚至人體微量元素的檢驗等眾多領域。X射線熒光光譜儀工作原理介紹用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波
X射線熒光光譜儀介紹
儀器理念：為客戶創造價值，為員工實現價值，為公司提升價值。/客戶贏，員工贏，公司贏。儀器服務：昆山市玉山鎮日興聯精密儀器商行先后在中國沿海區域設立多個辦事處，主要分布華東、華南和東北。公司始終承諾所有分析儀器在中國大陸4小時電話及時呼應和48小時上門服務。儀器目標：進一步完善產品，為客戶提供理高品質、具市場性價比的分析儀器。爭取在短的時間內，使儀器成為全球X射線應用領域設備制造商，全球技術一流、品
ICP-AES光譜儀分析方法介紹
ICP-AES法首先是一種發射光譜分析方法，可以多元素同時測定。發射光譜分析方法只要將待測原子處于激發狀態，便可同時發射出各自特征譜線同時進行測定。ICP-AES儀器，不論是多道直讀還是單道掃描儀器，均可以在同一試樣溶液中同時測定大量元素（30～50個，甚至多）。已有文獻報導的分析元素可達78個[4]，即除He、Ne、Ar、Kr、Xe惰性氣體外，自然界存在的所有元素，都已有用ICP-AES法測定的