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非飽和加速壽命試驗箱(又名PCT加速老化試驗機)主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度/濕度及壓力下測試,濕氣會沿著膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速壽命試驗的目的:提高環境應力(如:溫度、氣壓)與工作應力(如:電壓、負荷等)加快試驗過程,縮短產品的壽命試驗時間。用于調查分析電子元器件、機械零件等的
?多數半導體電子元器件都需要在干燥條件下作業和存放,潮濕的環境會腐蝕損壞各類敏感的半導體電子元器件,精密光學器件等,特別是當半導體電子元器件、芯片等原料長期暴露在高濕空氣環境中時,如果不及時采取有效的防潮措施就會導致元件報廢,并且非常多電子元件是半導體設備的**零件,這樣將會直接損壞設備,影響設備的正常使用,半導體生產行業的工廠一般的溫濕度條件為:=22±2°,=45±5%。用合理儲存方
由于客戶經常會遇到恒溫恒濕設備不制冷的狀況,所以收集多個常見因素,以下意見僅供參考。 分析一:由于是溫度保持不住,觀察制冷壓縮機在試驗箱運行過程中是否能夠啟動,壓縮機在環境試驗設備運行過程中都能夠啟動,說明從主電源到各壓縮機的電器線路正常,電器系統方面也沒有問題。 電氣系統沒有問題,繼續檢查制冷系統。首先檢查兩組制冷機組的低溫(R23)級壓縮機的排氣和吸氣壓力都較正常值偏低,而且吸氣壓力呈抽空狀態
同心同德同舟楫,濟人濟事濟!*大*史悠久、聲譽**,是ZGzui早的國立大學之一,是jiaoyubu直屬并與上海市共建的國內重dian大學。經過115年的發展,*大學已經成為一所特色鮮明、在海內外有較大影響力的綜合性、研究型、guoji化大學,綜合實力國內高校**。學校始于1907年德國醫生埃里希?寶隆在中德兩國fu和shehui各界支持下創辦的*德文醫學堂。1912年與創辦不久的*德文
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